1、單探頭法
使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測(cè)方法稱為單探頭法。
對(duì)于與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體型缺陷的檢出效果很好。
與波束軸線平行的片狀缺陷難以檢出。
當(dāng)缺陷與波束軸線傾斜時(shí)，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠收到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無(wú)法檢出。
2、雙探頭法
使用兩個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射，一個(gè)接收）進(jìn)行檢測(cè)的方法稱為雙探頭法。主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭法難以檢出的缺陷。
雙探頭法又可根據(jù)兩個(gè)探頭排列方式和工作方式進(jìn)一步分為并列式、交叉式、V型串列式、K型串列式、串列式等。

注：無(wú)損檢測(cè)里面常用的是探傷技術(shù)，探傷技術(shù)里常用的是超聲波探傷儀和磁粉探傷儀及射線探傷，北京時(shí)代天晨公司主要經(jīng)營(yíng)：超聲波探傷儀,磁粉探傷儀.硬度計(jì)，測(cè)厚儀等檢測(cè)設(shè)備。

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